Page 92 - 林口醫研部12月電子報
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■ 穿透式電子顯微鏡Transmission Electron Microscope (TEM)
穿透式電子顯微鏡主要由電子槍發射電子束投射到超薄 (厚度須小於
100nm) 的樣品上，經過電磁透鏡系統形成明暗不同的影像，聚焦在
螢光屏上或者其他顯示設備上，利用其圖像來分析樣品內部的微觀組
織結構，放大倍數為幾萬～百萬倍。適用於觀察生物或細胞內部的超
顯微結構、奈米顆粒大小的測定等。
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