Page 91 - 林口醫研部12月電子報

■ 掃描式電子顯微鏡Scanning Electron Microscope (SEM)

掃描式電子顯微鏡主要是利用高加速電壓之入射電子束經過電磁透鏡

撞擊在樣品後，產生相關二次電子訊號，使用特殊檢測器收集被發射

的二次電子再經過放大訊號，產生樣品表面的高解析度影像，並可利

用能量散射光譜儀(EDS) 進行樣品的定性或半定量化學成份分析。適

用於觀察生物表面形態、生醫材料、及奈米顆粒等。

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