Page 21 - 林口醫研部 9月電子報
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然而，環境中充斥著輻射線，高能質子普遍存在於高空及太空中，
而中子則多半存在於地球表面，這些輻射粒子除了會影響人體健康之外
，還會造成半導體微電子元件的損傷，影響到產品的正常運作，舉凡植
入式電子儀器、人造衛星、通訊、控制、導航、及網路等，輻射損傷小
則引起資料錯誤、數據報銷等損失，大則危及產品控制之安全、人類健
康及生命。因此，半導體微電子元件及其產品，必須經過嚴格的輻射效
應測試，包括總輻射劑量效應 (total dose effect) 測試，以及單一事件效應
(single event effect, SEE) 測試—尤其是奈米等級之元件對於單一事件效應
特別敏感，必須經過電子元件可靠度測試，才能確保產品的在某些輻射
環境下是否能正常運作。本實驗室與中央研究院高能物理所，共同開發
並建構質子抗輻射耐性之測試平台及標準程序，以協助台灣產業界或學
界研發。
照片花絮
2020年8 月23日，感謝醫研部長官的安排，借北區智慧醫療課程開幕
典禮，邀請副總統 賴清德先生蒞臨指導本實驗室，由實驗室 林倩伃 主任
介紹實驗室的成立歷史、設置宗旨，希望讓賴副總統了解林口長庚研究
，不侷限於醫學方面，也支持跨領域研究，應用到衛星輻射測試、參與
並協助國內產業升級，並恭請 賴副總統在實驗室歷史牆上簽名及留影作
為鼓勵，實驗室深感榮幸。右圖為於實驗室內，由國立清華大學 牛寰博
士講解研究用射束傳導系統設施及其設計理念 ，並由中央研究院物理研
究所林志勳博士講解自製二維分佈偵檢器硬體與軟體程式，偵測質子射
束在二維度之形狀、大小及分布。
Department of Medical Research & Development, Linkou Newsletter 21
