Page 18 - @林口醫研部201909電子報

顯微鏡 核心 實驗室

穿透式電⼦顯微鏡 TEM

ransmission electron microscope

是把經加速和聚集的⾼能量電⼦束投射到經過特殊⽅法製備的厚度

⼩於100 nm之超薄切⽚樣品上, 電⼦與樣品中的原⼦碰撞⽽改變⽅向, 從

⽽產⽣⽴體⾓散射。散射⾓的⼤⼩與樣品的密度、厚度相關, 因此可以形

成明暗不同的影像, 影像再放⼤、聚焦後再成像器件上顯⽰出來。由於電

⼦的波⾧短, 透射電⼦顯微鏡的解析度⽐光學顯微鏡⾼的很多, 可以達到

0.1〜0.2nm, 放⼤倍數為幾萬〜百萬倍, ⽐光學顯微鏡所能夠觀察到的最

⼩的結構⼩數萬倍。因此, 使⽤TEM可以⽤於觀察樣品的精細結構, 在材

料科學和⽣物學等相關的許多科學領域中都是重要的分析⽅法。

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